MOSFETの発熱で

テスト中にまた煙が出てしまった。
よく見ると、テスタープローブの先端が解けてしまったり、半田付けした配線が外れてしまったり。

PWMの調整をしていて、スピンドルのベルトをかけて、負荷が掛かった状態にしてみたら、こんなことになってしまった。

負荷が掛かっていると、起動に時間が掛かりすぎてしまって、電源が簡単にトリップしてしまう。だからPWMのデューティー比を低い状態のままにする必要があった。

デューティー比を2.5%程度の低い状態で起動させてみたところ、トリップしないで徐々に速度が上がっていきだした。そして、突然、回転数が上がったり下がったりのバウンドを繰り返しながら、無負荷時よりも少し遅いぐらいで安定したかと思ったら、煙がでてきた。

MOSFETに接触していたプローブ先端のプラスチック部分が、MOSFET本体よりも早く解けてしまったようだ。

オシロスコープの波形は記録できていないけれど、そのときの波形は相当に横に伸びてしまってとても2%前後のデューディー比で抑えている状態とはいえないのこぎり状の形になっていた。MOSFETがOFFできないで電流が流れ続けているように見えた。
MOSFETのラッチアップという現象が原因かもしれない。